ICT测试治具的测试阅读时间有什么方法？公司电子总结出以下内容，希望对你有帮助，从内存中读取所需的数据，内存访问时间的ICT测试治具。方法测试治具测试阅读时间一般如下：

1，对单元写数据0”；

2，写“1单元B”的数据；

3，坚持阅读使读值；

4，基本上是在记忆的持续时间的ICT测试过炉治具的测量数据

5，转换时间从地址转换来转换数据之间的时间；

6，恢复时间之后所写的，写的读取存储单元必须等待时间；

7，暂停时间，存储单元可以保持其状态的时间。

8，刷新时间刷新存储器；

9，建立的时间——变换输入的数据必须被锁定在输入时钟的时间提前；

10，坚持以输入的数据必须坚持的时间锁定的时钟输入。

同时，改变ICT测试治具的测试周期，通过反复运行功能测试。测试设备的速度，周期和频率通常是通过二进制搜索法的快速变化，频率测试发现该设备可以运行。

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